Атомно-силові мікроскопи

Атомно-силова мікроскопія поверхні

AFM досліджує поверхню за взаємодією зонда зі зразком. Метод дає змогу отримувати карти рельєфу та, за відповідного оснащення, вимірювати механічні й електричні властивості матеріалів.

Обираючи систему, порівнюйте діапазон сканування, допустимий розмір зразка, режими роботи та сумісність зондів. Для стабільного вимірювання враховують віброізоляцію й акустичний захист. Додаткові модулі, роботу в рідині та спеціальні вимірювальні режими зазначають у конфігурації.