ТОВ «ОСЕЛЯ ЮТ» — медичне обладнання, проєктний супровід і сервіс по Україні
+38 (067) 821 46 96

Атомно-силовий мікроскоп Bruker Dimension Icon

В наявності
Артикул: Dimension Icon
  • Атомно-силовий мікроскоп Bruker Dimension Icon
Опис

Bruker Dimension Icon — атомно-силовий мікроскоп для вимірювання рельєфу поверхні та дослідження матеріалів на наномасштабі. Платформа зі скануванням зондом підтримує великі зразки, контактний режим, TappingMode і PeakForce Tapping. Електричні та наномеханічні вимірювання визначаються обраними модулями, зондами й умовами експерименту.

СКАНУВАННЯ XY90 × 90 µmТипове значення
ДІАПАЗОН Z10 µmТипове значення
ЗРАЗОК≤210 mmДіаметр; товщина до 15 мм

Ключові переваги

  • Сканування зондом дає змогу досліджувати великі зразки без сканування всією їх масою.
  • Замкнений контур XYZ та температурно-компенсовані датчики положення підтримують точність переміщення.
  • Контактний режим, TappingMode та PeakForce Tapping дозволяють добирати взаємодію зонда зі зразком.
  • ScanAsyst допомагає автоматизувати налаштування параметрів знімання.
  • Відкритий доступ до зонда та зразка полегшує підготовку вимірювань і заміну оснащення.
  • Модульне оснащення розширює дослідження до механічних та електричних властивостей; потрібні опції погоджують окремо.

Технічні характеристики

МетодАтомно-силова мікроскопія (AFM) зі скануванням зондом
Діапазон XY90 × 90 мкм типово; мінімум 85 мкм
Діапазон Z10 мкм типово; мінімум 9,5 мкм
Розмір зразкаДіаметр ≤210 мм; товщина ≤15 мм
Моторизований столик XYДоступна область 180 × 150 мм
Вертикальний шум<30 пм RMS у відповідному середовищі, типова смуга до 625 Гц
Шум положення XY, замкнений контур≤0,15 нм RMS, типова смуга до 625 Гц
Камера та наведення5 Мп; цифрове збільшення та моторизований фокус
КонтролерNanoScope 6 за актуальною специфікацією виробника
Основні режимиContact Mode, TappingMode (повітря), PeakForce Tapping, ScanAsyst
Приклади опційPeakForce QNM, C-AFM, SCM, SSRM, режими в рідині — за конфігурацією
Основа характеристикБрошура Bruker B068 Rev. C0 та сторінка виробника; параметри залежать від умов

Застосування та комплектація

Система підходить для досліджень поверхонь полімерів, покриттів, напівпровідників та інших матеріалів. Перед підбором зазначте розмір і тип зразків, середовище, потрібні карти властивостей та допустимий рівень шуму. Склад поставки фіксує AFM-платформу, контролер, програмне забезпечення, зонди, тримачі, віброізоляцію, акустичний захист і додаткові режими. Фото показує платформу Dimension Icon з офіційної брошури; зовнішнє оснащення може відрізнятися. Ціну, встановлення та навчання погоджують у пропозиції.

Атомно-силові мікроскопи

Пов’язаний метод дослідження: ZEISS LSM 910 — конфокальна мікроскопія.

Офіційна інформація Bruker

Ціну уточнюйте
Дізнатися ціну
Консультація

Маєте запитання щодо товару? Напишіть нам у WhatsApp / Viber / Telegram