|
Количество
|
Стоимость
|
||
|
|
|||
|
|
|||
Электронная микроскопия поверхности
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) исследует поверхность образца электронным пучком. Такие приборы применяют в материаловедении, анализе частиц, исследовании дефектов и лабораторном контроле качества.
Выбор SEM
- Тип электронного источника и ускоряющее напряжение.
- Разрешение при определённых условиях измерения.
- Высокий и низкий вакуум, типы детекторов.
- Размеры образца, перемещения столика и возможности EDS.
Настольные SEM подходят для рутинных задач. Конфигурацию выбирают по материалам и цели анализа. Пробоподготовка, напылитель, EDS, компьютер и обучение определяются спецификацией. Смотрите также лабораторное оборудование.