|
Кількість
|
Вартість
|
||
|
|
|||
|
|
|||
Hitachi TM4000PlusIII — настільний сканувальний електронний мікроскоп для матеріалознавства, контролю якості та навчання. Моторизований столик і камера навігації допомагають знаходити ділянки зразка, а низьковакуумні режими та детектори BSE/UVD підтримують різні задачі дослідження поверхні.
НАПРУГА5 / 10 / 15 / 20 kVчотири значення
ЗРАЗОКØ80×50 mmмаксимум діаметр × висота
СТОЛИК XY40×35 mmмоторизоване переміщення
Ключові переваги
- Моторизований столик з навігацією за зображенням камери.
- Чотирисегментний BSE-детектор.
- UVD для вторинних електронів у низькому вакуумі.
- Змішані зображення BSE і SE.
- Контроль стану вольфрамової нитки.
- EDS та автоматизовані рецепти доступні як опції.
Технічні характеристики
| Модель | TM4000PlusIII |
|---|---|
| Тип | Настільний SEM |
| Збільшення для зображення 127×95 мм | 10–100,000× |
| Прискорювальна напруга | 5 / 10 / 15 / 20 kV |
| Рівні струму зонда | 5 |
| Джерело | Вольфрамовий картридж |
| Столик XY | 40×35 mm |
| Максимальний зразок | Ø80×50 mm |
| Детектори | BSE (4 segments) / UVD |
| Зображення, максимум | 2560×1920 px |
| Формати | BMP / TIFF / JPEG |
| Основний блок Ш×Г×В | 330×614×547 mm |
| Вага основного блока | 55 kg |
| Живлення | 100–240 V AC |
| EDS | Опція |
Застосування та комплектація
Для досліджень матеріалів, виробничого контролю та освіти. Це аналітичний SEM, не клінічний діагностичний прилад. Підтвердьте тримачі зразків, вакуумний насос, комп’ютер, монітор, EDS, автоматизацію і навчання у складі поставки. При 20 кВ діють обмеження фокусування, описані виробником. Збільшення в таблиці визначене для зображення 127×95 мм; показник на моніторі залежить від його розміру. Фото показує приклад робочого місця. Ціну уточнюйте.
Сканувальні електронні мікроскопи
Для порівняння: JEOL JCM-7000Plus.