ООО «ОСЕЛЯ ЮТ» — медицинское оборудование, проектное сопровождение и сервис по Украине
+38 (067) 821 46 96

Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon

В наличии
Артикул: Dimension Icon
  • Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon
Описание

Bruker Dimension Icon — атомно-силовой микроскоп для измерения рельефа поверхности и исследования материалов на наномасштабе. Платформа со сканированием зондом поддерживает крупные образцы, контактный режим, TappingMode и PeakForce Tapping. Электрические и наномеханические измерения определяются выбранными модулями, зондами и условиями эксперимента.

СКАНИРОВАНИЕ XY90 × 90 µmТиповое значение
ДИАПАЗОН Z10 µmТиповое значение
ОБРАЗЕЦ≤210 mmДиаметр; толщина до 15 мм

Ключевые преимущества

  • Сканирование зондом позволяет исследовать крупные образцы без сканирования всей их массой.
  • Замкнутый контур XYZ и температурно-компенсированные датчики положения поддерживают точность перемещения.
  • Контактный режим, TappingMode и PeakForce Tapping позволяют подбирать взаимодействие зонда с образцом.
  • ScanAsyst помогает автоматизировать настройку параметров съёмки.
  • Открытый доступ к зонду и образцу облегчает подготовку измерений и замену оснащения.
  • Модульное оснащение расширяет исследования до механических и электрических свойств; необходимые опции согласуют отдельно.

Технические характеристики

МетодАтомно-силовая микроскопия (AFM) со сканированием зондом
Диапазон XY90 × 90 мкм типично; минимум 85 мкм
Диапазон Z10 мкм типично; минимум 9,5 мкм
Размер образцаДиаметр ≤210 мм; толщина ≤15 мм
Моторизованный столик XYДоступная область 180 × 150 мм
Вертикальный шум<30 пм RMS в соответствующей среде, типичная полоса до 625 Гц
Шум положения XY, замкнутый контур≤0,15 нм RMS, типичная полоса до 625 Гц
Камера и наведение5 Мп; цифровое увеличение и моторизованный фокус
КонтроллерNanoScope 6 по актуальной спецификации производителя
Основные режимыContact Mode, TappingMode (воздух), PeakForce Tapping, ScanAsyst
Примеры опцийPeakForce QNM, C-AFM, SCM, SSRM, режимы в жидкости — по конфигурации
Основа характеристикБрошюра Bruker B068 Rev. C0 и страница производителя; параметры зависят от условий

Применение и комплектация

Система подходит для исследований поверхностей полимеров, покрытий, полупроводников и других материалов. Перед подбором укажите размер и тип образцов, среду, необходимые карты свойств и допустимый уровень шума. Состав поставки фиксирует AFM-платформу, контроллер, программное обеспечение, зонды, держатели, виброизоляцию, акустическую защиту и дополнительные режимы. Фото показывает платформу Dimension Icon из официальной брошюры; внешнее оснащение может отличаться. Цену, установку и обучение согласуют в предложении.

Атомно-силовые микроскопы

Связанный метод исследования: ZEISS LSM 910 — конфокальная микроскопия.

Официальная информация Bruker

Цену уточняйте
Узнать цену
Консультация

Есть вопросы по товару? Напишите нам в WhatsApp / Viber / Telegram